Кафедра автоматизації та безпілотних систем
Permanent URI for this communityhttps://repository.lntu.edu.ua/handle/123456789/79
Browse
Search Results
Item type:methodologicalsupport.listelement.badge, Автоматизовані вимірювальні комплекси(Луцьк: ЛНТУ, 2026-10) Денисюк, Віктор ЮрійовичМетодичні вказівки до практичних занять спрямовані на закріплення теоретичних знань та набуття практичних навичок у галузі автоматизованих вимірювань, технічного контролю та керування технологічними процесами. Практичні заняття охоплюють питання принципів дії, конструктивних особливостей, характеристик, вибору та застосування вимірювальних перетворювачів і управляючих пристроїв у системах автоматизованого та активного контролю. У методичних вказівках розглянуто електроконтактні, фотоелектричні, пневматичні та індуктивні вимірювальні перетворювачі, їх призначення, принципи функціонування, основні характеристики та особливості використання в автоматизованих вимірювальних системах. Значну увагу приділено практичному аналізу пневматичних та електронних управляючих приладів активного контролю, їх структурним схемам, принципам формування керуючих сигналів і взаємодії з виконавчими елементами. Методичні вказівки спрямовані на формування у здобувачів умінь аналізувати принципи дії та характеристики вимірювальних перетворювачів, здійснювати вибір засобів вимірювання відповідно до поставленого завдання, визначати особливості побудови систем автоматизованого та активного контролю, аналізувати функціонування автоматичних підналагоджувальних систем, координатно-вимірювальних машин, вимірювальних роботів і контрольно-сортувальних автоматів.Item type:methodologicalsupport.listelement.badge, Автоматизовані вимірювальні комплекси(Луцьк: ЛНТУ, 2026-10) Денисюк, Віктор ЮрійовичУ конспекті розглянуто теоретичні та прикладні основи побудови, функціонування, проєктування й експлуатації автоматизованих вимірювальних комплексів, систем автоматизованого та активного контролю, автоматичних вимірювальних машин і контрольно-сортувальних автоматів. Значну увагу приділено принципам поєднання функцій вимірювання, контролю та автоматичного керування технологічними процесами, забезпеченню точності вимірювань і метрологічній надійності автоматизованих засобів контролю. Матеріал охоплює питання класифікації та функціонального призначення елементів систем автоматизованого контролю, стандартизації та уніфікації, вимірювально-перетворювальних елементів, електроконтактних, індуктивних і пневматичних перетворювачів, підсилювальних і виконавчих пристроїв, приводних електричних двигунів та дискретних елементів. Розглянуто принципи побудови автоматичних підналагоджувальних і самоналаштовувальних систем, методи контролю та управління точністю оброблення, а також особливості застосування лазерних систем активного контролю. Окремі розділи присвячено метрологічним і технологічним основам забезпечення точності автоматичного контролю розмірів, оцінюванню похибок вимірювання та контролю, аналізу точності підналагоджувальних систем, побудові схем налагодження та методам підналагодження. Розглянуто застосування систем автоматизованого контролю і діагностування у гнучких виробничих системах, принципи контролю стану ріжучого інструменту, заготовок і деталей. У конспекті висвітлено сучасні засоби автоматизованих вимірювань, зокрема координатно-вимірювальні машини, багатовимірні вимірювальні пристрої, вимірювальні роботи та робототехнічні комплекси. Розглянуто питання продуктивності автоматичних засобів вимірювання, організації циклів їх роботи, мікропроцесорного керування та узгодження навантажень виконавчих елементів. Значну увагу приділено структурі, принципам функціонування та конструктивним особливостям автоматичних вимірювальних машин і контрольно-сортувальних автоматів. Завершальний розділ присвячено питанням повірки, калібрування та забезпечення надійності автоматизованих вимірювальних комплексів, методикам випробування приладів активного контролю, а також забезпеченню стабільності та достовірності результатів автоматизованих вимірювань. Конспект лекцій спрямований на формування у здобувачів системного розуміння принципів побудови та функціонування автоматизованих вимірювальних комплексів, здатності обґрунтовано вибирати методи й засоби вимірювання та контролю, розробляти структурні, функціональні й принципові схеми автоматизованих вимірювальних систем, оцінювати їх точність, продуктивність і надійність, а також застосовувати сучасні інформаційні, мікропроцесорні, лазерні та робототехнічні технології у вимірювальних системах.Item type:methodologicalsupport.listelement.badge, Технічні системи контролю мікро- та наносистемної техніки(Луцьк: ЛНТУ, 2026-10) Денисюк, Віктор ЮрійовичМетодичні вказівки до лабораторних занять з дисципліни «Технічні системи контролю мікро- та наносистемної техніки» містять теоретичні відомості, методичні рекомендації та практичні завдання, спрямовані на формування у здобувачів вищої освіти практичних навичок застосування сучасних методів дослідження та контролю властивостей поверхні матеріалів і мікро- та наноструктур. У методичних вказівках розглянуто чотири лабораторні роботи, присвячені дослідженню матеріалів із використанням сучасних мікроскопічних і спектроскопічних методів. Перше лабораторне заняття спрямоване на вивчення принципів та практичних аспектів дослідження поверхні матеріалів методом скануючої тунельної мікроскопії, що дає змогу отримувати інформацію про атомну структуру та морфологію поверхні. Друге лабораторне заняття присвячено скануючій атомно-силовій мікроскопії. У процесі виконання роботи здобувачі ознайомлюються з принципами функціонування атомно-силового мікроскопа, особливостями взаємодії зонда з поверхнею, формуванням топографічних зображень та аналізом мікро- і нанорельєфу досліджуваних матеріалів. Третє лабораторне заняття передбачає проведення рентгеноспектрального аналізу, що дозволяє визначати елементний склад матеріалів і досліджувати їхні фізико-хімічні характеристики. Розглядаються принципи отримання та аналізу рентгенівських спектрів, ідентифікації хімічних елементів і оцінювання їх вмісту. Четверте лабораторне заняття присвячено оже-електронному аналізу матеріалів. Наведено основні принципи оже-електронної спектроскопії, особливості формування оже-спектрів та методи їх аналізу для визначення елементного складу поверхні матеріалів. Виконання лабораторних робіт сприяє набуттю здобувачами навичок підготовки та проведення експериментальних досліджень, роботи з результатами вимірювань, аналізу мікроскопічних зображень і спектрів, оцінювання властивостей поверхні та формулювання обґрунтованих висновків за результатами експерименту. Методичні вказівки призначені для здобувачів першого (бакалаврського) рівня вищої освіти освітньої програми «Мікро- та наносистемна техніка» спеціальності 176 «Мікро- та наносистемна техніка» денної та заочної форм навчання.Item type:methodologicalsupport.listelement.badge, Технічні системи контролю мікро- та наносистемної техніки(Луцьк: ЛНТУ, 2026-10) Денисюк, Віктор ЮрійовичУ конспекті лекцій «Технічні системи контролю мікро- та наносистемної техніки» розглянуто сучасні методи, засоби та технічні системи дослідження, вимірювання і контролю властивостей поверхонь, мікро- та наноструктур. Наведено теоретичні основи функціонування скануючих зондових мікроскопів, принципи формування та обробки зображень, особливості прецизійного переміщення зонда і зразка, конструкції сканерів, крокових електродвигунів і п’єзодвигунів. Основну увагу приділено методам скануючої тунельної та атомно-силової мікроскопії, зокрема принципам роботи відповідних мікроскопів, конструкціям зондів і зондових датчиків, контактним, безконтактним та напівконтактним режимам, тунельній спектроскопії, вимірюванню вольт-амперних характеристик і локальної роботи виходу, а також системам керування мікроскопами. Розглянуто електросилову та магнітно-силову мікроскопію, квазістатичні й коливальні методики дослідження поверхонь. У конспекті також висвітлено принципи ближньопольної оптичної мікроскопії, конструкції оптичних зондів на основі волокон, метод shear-force для контролю відстані між зондом і поверхнею. Значний розділ присвячено спектроскопічним методам дослідження поверхні: рентгенівській фотоелектронній та оже-електронній спектроскопії, методам якісного і кількісного аналізу спектрів, визначенню енергії зв’язку, кінетичної енергії та інтенсивності спектральних ліній. Розглянуто спектроскопію розсіювання повільних іонів та дифракцію повільних електронів як методи дослідження хімічного складу, атомної структури та кристалографічних властивостей поверхні. Особливу увагу приділено впливу дефектів, доменної структури, кластерів і теплових коливань атомів на результати досліджень. Конспект лекцій призначений для здобувачів першого (бакалаврського) рівня вищої освіти освітньої програми «Мікро- та наносистемна техніка» спеціальності 176 «Мікро- та наносистемна техніка» денної та заочної форм навчання. Матеріал може бути використаний для опанування теоретичних основ та практичних принципів застосування сучасних технічних систем контролю, мікроскопії, спектроскопії та структурного аналізу мікро- і наноструктур.Item type:methodologicalsupport.listelement.badge, Інженерне моделювання та програмування(Луцьк: ЛНТУ, 0026-08-25) Маркіна Людмила МиколаївнаКурс лекцій «Інженерне моделювання та програмування» формує у здобувачів практичні навички інженерного моделювання та алгоритмізації обчислювальних задач у середовищі MATLAB — роботи з масивами й матрицями, побудови алгоритмів обчислень та розробки графічного інтерфейсу користувача (GUI). Дисципліна спрямована на формування компетентностей, необхідних для розв'язання інженерних задач автоматизації.Item type:methodologicalsupport.listelement.badge, Інженерне моделювання та програмування(Луцьк: ЛНТУ, 0026-08-25) Маркіна, Людмила МиколаївнаМетодичні вказівки до виконання практичних завдань з дисципліни «Інженерне моделювання та програмування» охоплюють основи роботи в середовищі MATLAB — створення та обробку масивів і матриць, побудову алгоритмів обчислень і розробку графічного інтерфейсу користувача (GUI), формуючи практичні навички програмування та інженерного моделювання для розв'язання прикладних інженерних задач.Item type:methodologicalsupport.listelement.badge, Основи робототехніки(Луцьк: ЛНТУ, 0026-08-25) Маркіна, Людмила МиколаївнаМетодичні вказівки до виконання практичних занять з дисципліни «Основи робототехніки» призначені для здобувачів спеціальності 174 (G7) освітніх програм «Автоматизація та комп'ютерно-інтегровані технології» та «Системи керування безпілотними апаратами». Видання охоплює базові поняття робототехніки, сенсорне забезпечення та основи програмування роботизованих систем, формуючи практичні навички проєктування й програмування мехатронних комплексівItem type:methodologicalsupport.listelement.badge, Мікропроцесорна техніка та промислові контролери(Луцьк: ЛНТУ, 2026) Смолянкін, Олег Олексійовичметодичних вказівках розглянуто практичні завдання з мікропроцесорної техніки та промислових контролерів. Подано завдання з вивчення системних магістралей та програмної моделі мікроконтролера MCS-51, системи переривань і опитування дискретних датчиків, аналого-цифрового та цифро-аналогового перетворення, а також інтерфейсу I²C. Розглянуто практичні аспекти програмування мікроконтролера AT90S2313 та роботи в середовищі AVR Studio, використання модулів вводу-виводу серії ADAM-4000, контролерів ADAM-5000 і OMRON, а також програмування в інструментальних системах «Альфа», UltraLogic та CoDeSys.Item type:methodologicalsupport.listelement.badge, Мікропроцесорна техніка та промислові контролери(Луцьк: ЛНТУ, 2026) Смолянкін, Олег ОлексійовичУ методичних вказівках розглянуто лабораторні роботи з мікропроцесорної техніки та промислових контролерів. Подано завдання з вивчення архітектури та системи команд однокристальної ЕОМ КР1816ВЕ31 (стенд EV8031), програмування рівнобіжного інтерфейсу КР580ВВ55 та цифро-аналогових перетворень. Розглянуто практичні аспекти програмування мікроконтролерів AVR, роботи з промисловими контролерами ADAM-4000, ADAM-5511 та OMRON, а також дослідження систем UltraLogic і CoDeSys для розробки та налагодження керуючих програм.Item type:methodologicalsupport.listelement.badge, Алгоритмізація та програмування(Луцьк: ЛНТУ, 2026) Смолянкін, Олег ОлексійовичУ методичних вказівках розглянуто практичні завдання з алгоритмізації та програмування мовою Сі. Подано завдання з розробки лінійних алгоритмів, використання унарних та бінарних операторів, побудови розгалужених програм на основі умовних операторів та реалізації циклічних алгоритмів із лічильником. Розглянуто практичні аспекти обробки одномірних і двовимірних масивів, створення й опрацювання функцій, роботи із символьними величинами, а також організації введення-виведення даних та їх обробки у файлах.