Кафедра автоматизації та безпілотних систем
Постійне посилання на фондhttps://repository.lntu.edu.ua/handle/123456789/79
Переглянути
2 результатів
Результати пошуку
Item type:Кваліфікаційна робота бакалавра, Мікроскоп атомно-силовий Dimension 3100(Луцьк: ЛНТУ, 2026) Мартинюк, Павло РомановичУ дипломній роботі розглянуто конструкцію, принцип роботи та основні технічні характеристики скануючого зондового мікроскопа Dimension 3100. Проведено аналіз існуючих аналогів у галузі атомно-силової мікроскопії, описано фізичні явища, зокрема принципи міжмолекулярної взаємодії та систему оптичного важеля, що покладені в основу функціонування приладу. Подано креслення загального вигляду мікроскопа та складальне креслення тримача кантилевера. Наведено опис основних вузлів системи, розглянуто електричні, функціональні, структурні схеми та алгоритм роботи пневматичної системи вакуумного утримання зразка. У роботі виконано розрахунок резонансної частоти та жорсткості кантилеверів, а також оцінку сил Ван-дер-Ваальса, що мають значення для роботи СЗМ Dimension 3100 у контактному та напівконтактному режимах. Описано методику підготовки мікроскопа до роботи, процедуру встановлення зонда та юстирування лазерної системи. У спеціальному розділі подано відомості щодо технічного обслуговування, калібрування сканера, типових несправностей та методів проведення вимірювань у різних режимах сканування.Item type:Кваліфікаційна робота бакалавра, Мікроскоп Zeiss LSM 510(Луцьк: ЛНТУ, 2026-06) Палій, Валентина ОлексіївнаУ роботі розглянуто конструкцію, принцип роботи та основні технічні характеристики лазерного скануючого конфокального мікроскопа Zeiss LSM 510. Проведено аналіз існуючих аналогів, описано фізичні явища, покладені в основу функціонування приладу. Подано оптичну схему мікроскопа та складальне креслення тубусного спряження перископа зі сканувальною головкою. Наведено опис основних вузлів мікроскопа, розглянуто блок-схему приладу та алгоритм попіксельної реєстрації даних. У роботі виконано розрахунок оптичної роздільної здатності та товщини конфокального зрізу. Описано методику підготовки мікроскопа до роботи. У спеціальному розділі подано відомості щодо технічного обслуговування, можливих експлуатаційних несправностей та методів проведення вимірювань за допомогою програмного забезпечення.