Кафедра автоматизації та безпілотних систем
Постійне посилання на фондhttps://repository.lntu.edu.ua/handle/123456789/79
Переглянути
2 результатів
Результати пошуку
Item type:Матеріали конференцій, Мехатронний автоматизований комплекс для дослідження мікрооб’єктів(Луцьк: ЛНТУ, 2024) Денисюк, Віктор Юрійович; Огородник, Максим ОлександровичУ роботі розглянуто розроблення мехатронного автоматизованого комплексу для дослідження мікрооб’єктів, призначеного для виконання високоточних маніпуляцій та вимірювань у мікро- і нанодіапазоні. Проведено аналіз сучасних мікроманіпуляційних систем на основі п’єзоелектричних виконавчих пристроїв, які забезпечують безлюфтові та високоточні переміщення з високою стабільністю позиціонування. Обґрунтовано необхідність створення двокоординатного предметного столика з розширеним діапазоном переміщень, достатньою швидкодією та субмікронною точністю. Запропоновано структуру автоматизованого комплексу, що включає мікроскоп, відеокамеру, мікроманіпулятор, багатокоординатний стіл, систему керування та засоби візуалізації. Розроблено алгоритми керування модулем точних переміщень на базі біморфних п’єзоактюаторів, які забезпечують ефективну роботу комплексу в автоматичному та ручному режимах. Визначено параметри основних елементів системи керування, зокрема цифрових ємнісних датчиків переміщення, що суттєво впливають на точність позиціонування. Отримані результати підтверджують можливість використання запропонованого комплексу для високоточного дослідження, контролю та маніпулювання мікрооб’єктами в наукових і технологічних застосуваннях.Item type:Матеріали конференцій, Дослідження джерел виникнення похибок в системах автоматичного управління точністю оброблення(Київ: КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2023) Денисюк, Віктор Юрійович; Огородник, Максим ОлександровичУ роботі досліджено основні джерела виникнення похибок у системах автоматичного управління точністю механічної обробки деталей. Проведено аналіз структури автоматизованих технологічних систем, що забезпечують контроль та регулювання параметрів обробки із використанням приладів активного контролю, енкодерів та інших вимірювальних засобів. Розглянуто класифікацію похибок, які виникають у процесі функціонування системи, зокрема похибки вимірювальних приладів, похибки системи «верстат–пристрій–інструмент–деталь» та похибки засобів налаштування і калібрування. Детально проаналізовано основні складові похибки приладів активного контролю: похибку спрацьовування, похибку налаштування та похибку зміщення рівня налаштування. Значну увагу приділено дослідженню динамічних, температурних похибок, похибок, пов’язаних із нестабільністю контакту вимірювальних наконечників та їх зношуванням. Встановлено, що найбільший вплив на загальну похибку системи мають похибки зміщення налаштування, температурні та динамічні похибки, які можуть перевищувати 1 мкм. Результати дослідження можуть бути використані для підвищення точності автоматизованих систем контролю та управління процесами механічної обробки деталей.