Кафедра автоматизації та безпілотних систем

Постійне посилання на фондhttps://repository.lntu.edu.ua/handle/123456789/79

Переглянути

Фільтри

2023 - 20252

Налаштування

Квартиль та наукометрична база: search.filters.custom_quartile.Вітчизняні фахові наукові виданняКлючові слова: search.filters.subject.контроль

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 2 з 2
  • Ескіз
    Item type:Наукова стаття,
    Методика проєктування високоточних оптико-електронних приладів для безконтактного автоматичного вимірювання лінійних переміщень
    (Луцьк: ЛНТУ, 2023) Денисюк, Віктор Юрійович; Пташенчук, Віталій Віталійович
    В статті розглядається методика проєктування оптико-електронних приладів, що дозволяють з високою точністю вимірювати поперечні переміщення об’єктів при їх поздовжньому переміщенні від єдиних конструкторських баз. На основі розробленої математичної моделі і застосовних алгоритмів оцінки координат зображень об’єктів сформовані цільові функції проєктування для контролю переміщень, що дозволяють на системотехнічному рівні виконувати проєктні процедури багатоваріантного аналізу і параметричної оптимізації. Запропонована схема оптико-електронних приладів при оптимізованих значеннях параметрів елементів дозволить проводити вимірювання координат об’єктів з середньоквадратичним відхиленням похибки, що не перевищує 1 мкм
  • Ескіз
    Item type:Наукова стаття,
    Аналіз сучасних технологій контролю виробів адитивного виробництва
    (Луцьк: ЛНТУ, 2025) Денисюк, Віктор Юрійович
    Використання нових технологій виробництва дозволяє підвищити якість продукції, однак, збільшення темпів виробництва вимагає більшої швидкості роботи існуючих технологій контролю виробів чи застосування нових ефективних підходів. В статті описано сучасні технології контролю якості виробів для забезпечення конкурентоспроможності продукції та її затребуваності на ринку з урахуванням специфіки формування виробів. Найбільш перспективними методами сучасних технологій контролю виробів є комп’ютерна томографія, що використовується для детального контролю та аналізу різних виробів і об’єктів; використання оптичних сенсорів для двовимірного аналізу виробів; використання оптоволоконних інструментів у координатно-вимірювальних машинах.