Назва: Аналіз оптичних методів вимірювання лінійних переміщень об’єктів
| custom.quartile | Вітчизняні фахові наукові видання | |
| dc.contributor.author | Денисюк, Віктор Юрійович | |
| dc.contributor.author | Гарбарчук, Ростислав Анатолійович | |
| dc.contributor.author | Холонівець, Андрій Володимирович | |
| dc.date.accessioned | 2026-06-08T14:38:20Z | |
| dc.date.issued | 2023 | |
| dc.description | У статті проведено аналіз сучасних оптичних методів вимірювання лінійних переміщень об’єктів, що застосовуються в машинобудуванні, приладобудуванні, робототехніці, оптичному виробництві та інших галузях, де висуваються підвищені вимоги до точності позиціонування та контролю розмірів. Розглянуто принципи функціонування інтерференційних, триангуляційних і растрових оптико-електронних вимірювальних систем, проаналізовано їх переваги, обмеження та сфери застосування. Особливу увагу приділено оптико-електронним перетворювачам лінійних переміщень на основі оптичних растрів, які забезпечують високу точність вимірювань і широкі можливості інтеграції з системами числового програмного керування та цифрової індикації. Розглянуто особливості інкрементних, квазіабсолютних і абсолютних перетворювачів, а також різні типи растрових сполучень, зокрема муарове, ноніусне та обтюраційне. Проведено аналіз основних джерел похибок вимірювання, серед яких найбільший вплив мають температурні зміни та похибка дискретизації. На основі порівняння характеристик сучасних растрових вимірювачів показано, що вони забезпечують мікрометрову та субмікрометрову точність вимірювань у широкому діапазоні переміщень. Встановлено, що подальше підвищення точності оптичних вимірювальних систем потребує застосування матеріалів із низьким коефіцієнтом теплового розширення та ефективних методів компенсації похибок у вимірювальній електроніці. | |
| dc.description.abstract | У статті проведено аналіз сучасних оптичних методів вимірювання лінійних переміщень об’єктів, що застосовуються в машинобудуванні, приладобудуванні, робототехніці, оптичному виробництві та інших галузях, де висуваються підвищені вимоги до точності позиціонування та контролю розмірів. Розглянуто принципи функціонування інтерференційних, триангуляційних і растрових оптико-електронних вимірювальних систем, проаналізовано їх переваги, обмеження та сфери застосування. Особливу увагу приділено оптико-електронним перетворювачам лінійних переміщень на основі оптичних растрів, які забезпечують високу точність вимірювань і широкі можливості інтеграції з системами числового програмного керування та цифрової індикації. Розглянуто особливості інкрементних, квазіабсолютних і абсолютних перетворювачів, а також різні типи растрових сполучень, зокрема муарове, ноніусне та обтюраційне. Проведено аналіз основних джерел похибок вимірювання, серед яких найбільший вплив мають температурні зміни та похибка дискретизації. На основі порівняння характеристик сучасних растрових вимірювачів показано, що вони забезпечують мікрометрову та субмікрометрову точність вимірювань у широкому діапазоні переміщень. Встановлено, що подальше підвищення точності оптичних вимірювальних систем потребує застосування матеріалів із низьким коефіцієнтом теплового розширення та ефективних методів компенсації похибок у вимірювальній електроніці. | |
| dc.identifier.citation | Денисюк В. Ю., Гарбарчук Р. А., Холонівець А. В. Аналіз оптичних методів вимірювання лінійних переміщень об’єктів. Приладобудування: стан і перспективи»: зб. матеріалів XХІІ міжнар. наук.-техн. конф. (м. Київ, 16-17 трав. 2023 р.). Київ, 2023. C. 50-53. | |
| dc.identifier.uri | https://repository.lntu.edu.ua/handle/123456789/3588 | |
| dc.language.iso | uk | |
| dc.publisher | Київ: КПІ ім. Ігоря Сікорського | |
| dc.relation.ispartofseries | 22 | |
| dc.subject | лінійні переміщення | |
| dc.subject | оптичні методи вимірювання | |
| dc.subject | оптико-електронний перетворювач | |
| dc.subject | оптичний растр | |
| dc.subject | інтерферометрія | |
| dc.subject | триангуляційний метод | |
| dc.subject | абсолютний перетворювач | |
| dc.subject | інкрементний перетворювач | |
| dc.subject | похибка дискретизації | |
| dc.subject | позиціонування | |
| dc.subject | вимірювальні системи. | |
| dc.title | Аналіз оптичних методів вимірювання лінійних переміщень об’єктів | |
| dc.title.alternative | Analysis of optical methods for measuring linear displacements of objects | |
| dc.type | Article | |
| dspace.entity.type | StudyCollections |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
Вантажиться...
- Назва:
- section_2_23_print.pdf
- Розмір:
- 1.02 MB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1
Вантажиться...
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 1.59 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed to upon submission
- Опис: