DSpace

Зараз показуємо 1 - 3 з 3

Аналіз похибок обробки деталей при автоматичному розмірному контролі
(Луцьк: ЛНТУ, 2023) Денисюк, Віктор Юрійович; Пташенчук, Віталій Віталійович
В статті описано вплив на точність механічної обробки деталей різних факторів автоматизованого комплексу, що складається з металорізального верстата та приладу активного контролю. Завданням даного комплексу є отримання деталей з обробленою поверхнею, розміри якої повинні знаходитись у межах заданого поля допуску. Прилади активного контролю не виключають впливу на розмір, одержуваний у результаті обробки, всіх діючих на верстат, прилад та деталь факторів, що викликають похибки. До таких факторів насамперед відносяться непостійність температури оброблюваної деталі під час її вимірювання наприкінці обробки, що виникає через нагрівання деталі в процесі шліфування, коливання припуску та механічних властивостей оброблюваного матеріалу, затуплення ріжучого інструменту, а також непостійності температури змащувально-охолоджувальної рідини та навколишнього повітря. Крім того, на вимірювання впливають також зношення вимірювальних наконечників приладу та зміна його температури під впливом навколишнього середовища. Наведено похибки обробки, що виникають внаслідок різних причин, які безпосередньо впливають на отримання розміру деталі в момент закінчення обробки, або виявляються на оброблених деталях.
Методика проєктування високоточних оптико-електронних приладів для безконтактного автоматичного вимірювання лінійних переміщень
(Луцьк: ЛНТУ, 2023) Денисюк, Віктор Юрійович; Пташенчук, Віталій Віталійович
В статті розглядається методика проєктування оптико-електронних приладів, що дозволяють з високою точністю вимірювати поперечні переміщення об’єктів при їх поздовжньому переміщенні від єдиних конструкторських баз. На основі розробленої математичної моделі і застосовних алгоритмів оцінки координат зображень об’єктів сформовані цільові функції проєктування для контролю переміщень, що дозволяють на системотехнічному рівні виконувати проєктні процедури багатоваріантного аналізу і параметричної оптимізації. Запропонована схема оптико-електронних приладів при оптимізованих значеннях параметрів елементів дозволить проводити вимірювання координат об’єктів з середньоквадратичним відхиленням похибки, що не перевищує 1 мкм
Аналіз особливостей конструювання та метрологічного забезпечення приладів активного контролю
(Луцьк: ЛНТУ, 2024) Денисюк, Віктор Юрійович
В статті описано основні умови вибору схеми контролю в процесі обробки для забезпечення високої точності вимірювання. Встановлено, що даний час у приладах активного контролю для шліфувальних верстатів найбільше поширення отримав індуктивний принцип перетворення розміру в покази шкального або цифрового індикатора. Описано основні метрологічні характеристики приладу активного контролю, функціональний зв’язок приладу з верстатом, їх компонування та обмін сигналами між верстатом та приладом. Також описано способи контакту вимірювальних наконечників приладів активного контролю з оброблюваною деталлю для визначення точності та надійності вимірювання.

Наукові статті

Переглянути

Фільтри

Налаштування

Сортувати за

Результатів на сторінку

Результати пошуку