Матеріали конференцій
Постійне посилання зібранняhttps://repository.lntu.edu.ua/handle/123456789/273
Переглянути
2 результатів
Результати пошуку
Item type:Матеріали конференцій, До метрологічного забезпечення вимірювання за допомогою мікроскопа-нанотвердоміра «НаноCкан-3D»(Київ: КПІ ІМ. ІГОРЯ СІКОРСЬКОГО, 2021) Денисюк, Віктор Юрійович; Симонюк, Володимир Павлович; Лапченко, Юрій Сергійович; Тимощук, Антон Анатолійович; Черняк, Софія ОлександрівнаПроведено огляд методів і приладової бази для дослідження трибологічних і механічних властивос- тей поверхні. Встановлено, що найбільш поширеними методами дослідження цих властивостей на мікро- і на- нодіапазонах є контактні методи, засновані на взаємодії твердого наконечника з досліджуваним матеріалом. У скануючій зондовій мікроскопії для комплексного дослідження трибологічних і механічних властивостей пове- рхні основним елементом вимірювальних модулів, які використовуються для наноіндентування і склерометрії, є біморфний п’єзокерамічний зондовий датчик з алмазним наконечником. Оригінальна конструкція датчика до- зволяє реалізувати більше десяти вимірювальних методик на одному приладі. Робота цих приладів в напівкон- тактному скануючому зондово-мікроскопічному режимі дозволяє отримати зображення рельєфу поверхні і ка- рту розподілу пружних властивостей. Режим індентування дозволяє виміряти твердість і модуль пружності, оцінити пружне відновлення матеріалу після індентування. Метод дозволяє визначити опір абразивного зно- шення і твердість матеріалу, адгезію і товщину тонких покриттів.Item type:Матеріали конференцій, Аналіз методів скануючої зондової мікроскопії для контролю та діагностування наномодифікованих матеріалів(Луцьк: ЛНТУ, 2022) Денисюк, Віктор Юрійович; Конончук, Ілля ЮрійовичВ даній роботі розглянуто методи створення, і апробації наноструктурованих зондів для підвищення просторової роздільної здатності і контрасту, розширення функціональних можливостей і достовірності методу скануючої силової мікроскопії. Наведено сучасні типи спеціалізованих зондів для скануючої силової мікроскопії. Розглянуті проблеми метрологічної забезпеченості лінійних вимірювань нанорозмірних об'єктів в скануючій силовій мікроскопії.