Матеріали конференцій

Постійне посилання зібранняhttps://repository.lntu.edu.ua/handle/123456789/273

Переглянути

Результати пошуку

Зараз показуємо 1 - 10 з 17
  • Item type:Матеріали конференцій,
    Аналіз технологій запису зображень на тонких плівках
    (Луцьк: ЛНТУ, 2024) Денисюк, Віктор Юрійович; Кібиш, Олександр Дмитрович
    У роботі проведено аналіз сучасних технологій запису зображень на тонких плівках, які застосовуються для виготовлення мікро- та наноструктур у мікроелектроніці, фотоніці, оптичному зв’язку та виробництві напівпровідникових компонентів. Розглянуто особливості традиційних літографічних методів, зокрема DUV- та EUV-літографії, а також безмаскових технологій на основі електронних, іонних та рентгенівських пучків. Показано їхні переваги щодо досягнення нанометрової роздільної здатності та обмеження, пов’язані зі складністю обладнання, високою вартістю та необхідністю роботи у вакуумних умовах. Особливу увагу приділено методу прямого лазерного запису (Direct Laser Writing), який є перспективною альтернативою для створення дифракційних оптичних елементів, фотошаблонів та інших мікрооптичних структур. Проаналізовано різновиди лазерного запису, їхні переваги та недоліки, а також проблеми, пов’язані з дифракційними обмеженнями оптичних систем. Досліджено термохімічний метод запису на тонких металевих плівках, який дозволяє формувати структури з високою просторовою роздільною здатністю завдяки локальному окисненню матеріалу під дією лазерного випромінювання. Розглянуто особливості формування термохімічних зображень на тонких плівках хрому та титану, визначено фактори, що впливають на якість, контрастність і точність запису. Показано перспективність використання титанових плівок з утворенням прозорих оксидів без застосування операцій травлення, що спрощує технологічний процес та підвищує ефективність виготовлення оптичних елементів. Обґрунтовано необхідність подальших теоретичних і експериментальних досліджень для визначення оптимальних режимів лазерного впливу та досягнення субмікронної роздільної здатності при записі структур на тонких металевих плівках.
  • Item type:Матеріали конференцій,
    Оптико-електронні пристрої метрологічного контролю похибок механічних пристроїв переміщень об'єктів
    (Херсон: ХНТУ, 2021) Денисюк, Віктор Юрійович; Симонюк, Володимир Павлович; Лапченко, Юрій Сергійович
    У статті розглянуто проблему метрологічного контролю похибок механічних пристроїв переміщення об'єктів, зокрема визначення поперечних зміщень та відхилень від прямолінійності траєкторії руху. Проведено аналіз існуючих методів і засобів вимірювання, показано переваги використання оптико-електронних технологій для безконтактного високоточного контролю координатних переміщень. Запропоновано функціональну схему оптико-електронного приладу, що забезпечує автоматичне вимірювання поперечних переміщень об'єктів при їх значному поздовжньому переміщенні. Описано принцип роботи приладу, до складу якого входять лазерне джерело випромінювання, афокальна репродукційна оптична система, транспарант, цифрова телевізійна камера та система комп'ютерної обробки сигналів. Виконано аналіз впливу параметрів транспаранта та оптичної системи на діапазон вимірювань і точність контролю. Показано можливість керування робочим діапазоном вимірювань шляхом зміни просторового періоду транспаранта та коефіцієнта збільшення оптичної системи. Встановлено, що розроблені оптико-електронні пристрої дозволяють здійснювати високоточний безконтактний контроль похибок лінійних переміщень від єдиних конструктивних баз і можуть бути ефективно використані в системах активного контролю верстатів з числовим програмним керуванням та інших високоточних технічних системах.
  • Item type:Матеріали конференцій,
    До метрологічного забезпечення вимірювання за допомогою мікроскопа-нанотвердоміра «НаноCкан-3D»
    (Київ: КПІ ІМ. ІГОРЯ СІКОРСЬКОГО, 2021) Денисюк, Віктор Юрійович; Симонюк, Володимир Павлович; Лапченко, Юрій Сергійович; Тимощук, Антон Анатолійович; Черняк, Софія Олександрівна
    Проведено огляд методів і приладової бази для дослідження трибологічних і механічних властивос- тей поверхні. Встановлено, що найбільш поширеними методами дослідження цих властивостей на мікро- і на- нодіапазонах є контактні методи, засновані на взаємодії твердого наконечника з досліджуваним матеріалом. У скануючій зондовій мікроскопії для комплексного дослідження трибологічних і механічних властивостей пове- рхні основним елементом вимірювальних модулів, які використовуються для наноіндентування і склерометрії, є біморфний п’єзокерамічний зондовий датчик з алмазним наконечником. Оригінальна конструкція датчика до- зволяє реалізувати більше десяти вимірювальних методик на одному приладі. Робота цих приладів в напівкон- тактному скануючому зондово-мікроскопічному режимі дозволяє отримати зображення рельєфу поверхні і ка- рту розподілу пружних властивостей. Режим індентування дозволяє виміряти твердість і модуль пружності, оцінити пружне відновлення матеріалу після індентування. Метод дозволяє визначити опір абразивного зно- шення і твердість матеріалу, адгезію і товщину тонких покриттів.
  • Item type:Матеріали конференцій,
    Метрологічне забезпечення точності обробки торців кілець роликопідшипників засобами активного контролю
    (Чернігів: НУ «Чернігівська політехніка», 2022) Денисюк, Віктор Юрійович
    У статті розглянуто питання метрологічного забезпечення точності обробки торцевих поверхонь кілець роликопідшипників засобами активного контролю. Показано, що торцеві поверхні кілець є базовими при подальшій механічній обробці та суттєво впливають на точність і експлуатаційні характеристики підшипників. Проаналізовано основні фактори, які впливають на якість торцешліфування, зокрема зношення шліфувальних кругів, зміщення їх ріжучих поверхонь відносно базових площин та нестабільність припуску на обробку. Розглянуто принципи функціонування вимірювальних систем активного контролю, призначених для формування підналагоджувальних імпульсів і компенсації похибок, що виникають у процесі шліфування. Наведено основні методи формування сигналів підналагодження та проаналізовано їх вплив на точність обробки деталей. Визначено залежності похибки обробки від параметрів системи підналагодження та швидкості зношення шліфувальних кругів. Запропоновано підхід до безперервного формування підналагоджувальних імпульсів малої величини для забезпечення стабільності технологічного процесу. Результати дослідження дозволили обґрунтувати параметри системи автоматичного керування процесом шліфування, що забезпечує підвищення точності вимірювання висоти кілець роликопідшипників та ефективну компенсацію похибок, спричинених нерівномірним зношенням ріжучих поверхонь шліфувальних кругів. Розроблені рішення можуть бути використані при створенні сучасних систем активного контролю та автоматизованого управління процесами прецизійної механічної обробки.
  • Item type:Матеріали конференцій,
    Метрологічне забезпечення автоматизованих систем активного контролю
    (Луцьк: ЛНТУ, 2022) Денисюк, Віктор Юрійович
    У статті розглянуто питання метрологічного забезпечення автоматизованих систем активного контролю, призначених для вимірювання геометричних параметрів деталей безпосередньо в процесі їх оброблення та автоматичного управління технологічним обладнанням за результатами вимірювань. Проаналізовано особливості функціонування сучасних приладів активного контролю, які використовують мікропроцесорні та комп’ютерні блоки управління у поєднанні з індуктивними вимірювальними перетворювачами. Значну увагу приділено визначенню метрологічних характеристик приладів, зокрема оцінюванню похибок, проведенню калібрування та лінеаризації вимірювальних каналів. Розглянуто процедуру формування лінійної характеристики вимірювального перетворювача шляхом введення еталонних точок та корекції вихідних сигналів у всьому діапазоні вимірювання. Показано переваги застосування оптоелектронних приладів і цифрових індикаторів як зразкових засобів вимірювання під час повірки та калібрування систем активного контролю. Встановлено, що використання високоточних оптоелектронних засобів з цифровою індикацією забезпечує підвищення достовірності результатів вимірювань, спрощує процедури налаштування та дозволяє ефективно контролювати метрологічні характеристики автоматизованих систем. Отримані результати можуть бути використані для вдосконалення систем активного контролю в сучасному машинобудуванні та приладобудуванні з метою підвищення точності й стабільності технологічних процесів.
  • Item type:Матеріали конференцій,
    Аналіз методів контролю та діагностування наномодифікованих матеріалів
    (Луцьк: ЛНТУ, 2022) Денисюк, Віктор Юрійович; Конончук, Ілля Юрійович
    У статті проведено аналіз сучасних методів контролю та діагностування наномодифікованих матеріалів, які знаходять широке застосування в мікроелектроніці, енергетиці, медицині та інших високотехнологічних галузях. Розглянуто особливості нанокомпозиційних полімерних матеріалів та вплив наномодифікаторів на їх фізичні, хімічні та електрофізичні властивості. Проаналізовано існуючі методи дослідження наноматеріалів, серед яких скануюча зондова мікроскопія, електронна мікроскопія, рентгенівська, електронна, оптична та коливальна спектроскопія, методи радіоспектроскопії, нейтронографії та інші високороздільні способи діагностування. Особливу увагу приділено перевагам електронної мікроскопії як одного з основних інструментів дослідження наноструктур, що забезпечує високу роздільну здатність, можливість аналізу внутрішньої структури матеріалів та проведення досліджень у режимі in situ. Визначено перспективність використання тунельно-резонансного ефекту для оцінювання енергетичних рівнів нанооб’єктів і контролю концентрації наночастинок у полімерних нанокомпозитах. Показано, що розвиток комплексних високороздільних та неруйнівних методів діагностування є необхідною умовою вдосконалення технологій синтезу наноматеріалів і створення нових електронних та оптоелектронних пристроїв. Запропоновані підходи сприяють підвищенню ефективності технологічного контролю, оптимізації складу нанокомпозиційних матеріалів та дослідженню їх унікальних електрофізичних властивостей.
  • Item type:Матеріали конференцій,
    Аналіз методів дослідження механічних властивостей нанооб'єктів
    (Луцьк: ЛНТУ, 2022) Денисюк, Віктор Юрійович; Кайдик, Олег Леонтійович; Марчук, Назарій Андрійович
    У статті проведено аналіз сучасних методів дослідження механічних властивостей нанооб’єктів, які є важливими характеристиками при розробці та застосуванні наноматеріалів і наноструктур. Розглянуто основні механічні параметри матеріалів, зокрема пружність, міцність, пластичність та модуль Юнга, а також особливості їх визначення на нанорівні. Проаналізовано динамічні та статичні методи випробування одновимірних нанооб’єктів, таких як вуглецеві нанотрубки та наностержні. Показано, що динамічні методи базуються на дослідженні власних коливань консольних наноструктур за допомогою просвічувальної та скануючої електронної мікроскопії, тоді як статичні методи ґрунтуються на аналізі деформацій під дією контрольованих механічних навантажень. Особливу увагу приділено використанню атомно-силової мікроскопії, яка поєднує функції візуалізації та механічного впливу на нанооб’єкти, забезпечуючи високу точність вимірювань. Розглянуто особливості дослідження латеральних і нормальних деформацій наноструктур, а також сучасну триточкову методику визначення механічних характеристик наномостиків. Встановлено, що статичні методи, реалізовані на базі атомно-силової мікроскопії, забезпечують найвищу точність і зручність проведення експериментів. Отримані результати можуть бути використані для вдосконалення методів наномеханічних досліджень, оцінювання характеристик наноматеріалів та розроблення нових функціональних наноструктур для сучасних технічних систем.
  • Item type:Матеріали конференцій,
    Автоматизована система динамічного фотоаналізу візуальних показників старіння гумотехнічних виробів
    (Луцьк: ЛНТУ, 2022) Денисюк, Віктор Юрійович; Гуменюк, Лариса Олександрівна
    У статті розглянуто підхід до автоматизації процесу кліматичних випробувань гумотехнічних виробів із застосуванням підсистеми динамічного фотоаналізу візуальних показників старіння. Проаналізовано вплив кліматичних факторів, зокрема озону, температури, вологості та світлового випромінювання, на процеси деградації та руйнування гумових матеріалів. Запропоновано структурно-функціональну схему автоматизованої системи управління кліматичними випробуваннями, яка інтегрує засоби машинного зору для безперервного контролю стану поверхні досліджуваних зразків у робочій зоні кліматичної камери. Розглянуто основні варіанти монтажу оптичних систем спостереження та проаналізовано їх переваги й недоліки. Показано, що використання фотокамер і спеціалізованого програмного забезпечення для автоматичної обробки серій зображень дозволяє об’єктивно оцінювати ступінь і характер розтріскування поверхні ГТВ, зменшити вплив суб’єктивного фактора та підвищити точність контролю процесів старіння. Запропоноване рішення забезпечує оперативне отримання інформації про перебіг випробувань і створює передумови для адаптивного керування режимами роботи кліматичної камери з метою підвищення ефективності та інформативності досліджень.
  • Item type:Матеріали конференцій,
    Аналіз області застосування оптичного спектрального методу контролю у металургії
    (Луцьк: ЛНТУ, 2024) Денисюк, Віктор Юрійович
    У роботі проведено аналіз можливостей застосування оптичного спектрального методу контролю в металургійній галузі. Розглянуто принципи оптичної спектроскопії, що базуються на дослідженні спектральних характеристик емісійного, відбитого та пропущеного випромінювання для отримання інформації про стан об’єкта контролю та перебіг технологічних процесів. Проаналізовано сучасні методи контролю хімічного складу металів і сплавів, зокрема рентгенофлуоресцентний, пробірний та спектральний аналіз, і визначено їхні обмеження щодо оперативного контролю в режимі реального часу. Показано переваги оптичного спектрального методу, які полягають у високій швидкості, точності, неруйнівному характері вимірювань та можливості безперервного моніторингу процесу виплавки металів. Особливу увагу приділено застосуванню методу для контролю процесів вакуумно-дугового плавлення та отримання зливків тугоплавких металів в умовах високих температур. Обґрунтовано доцільність використання волоконно-оптичних систем передачі випромінювання та спектральних приладів на основі дифракційних решіток, які забезпечують високу роздільну здатність і широкий спектральний діапазон досліджень. Отримані результати підтверджують перспективність використання оптичного спектрального методу для підвищення ефективності контролю та керування металургійними процесами.
  • Item type:Матеріали конференцій,
    Особливості лазерного термохімічного запису в інтерференційному полі
    (Луцьк: ЛНТУ, 2024) Денисюк, Віктор Юрійович; Кібиш, Олександр Дмитрович
    У роботі досліджено особливості лазерного термохімічного запису на тонких металевих плівках в інтерференційному полі для формування мікро- та субмікронних структур. Проаналізовано сучасні підходи до виготовлення нанорозмірних елементів для мікроелектроніки та дифракційної оптики, а також визначено переваги прямого лазерного запису порівняно з традиційними літографічними технологіями. Розглянуто можливості поєднання лазерної інтерференційної літографії та термохімічного окислення тонких металевих плівок для отримання висококонтрастних оптичних структур. Встановлено, що застосування коротких і надкоротких лазерних імпульсів сприяє локалізації теплового впливу, зменшенню розмірів окислених зон та підвищенню просторової роздільної здатності запису. Експериментально підтверджено можливість формування періодичних структур на тонких плівках титану з роздільною здатністю до 0,65 ліній/мкм без виникнення абляційних процесів. За допомогою оптичної мікроскопії та мікрораманівської спектроскопії встановлено утворення оксидів титану в зоні лазерного впливу. Показано, що збільшення кількості пікосекундних імпульсів сприяє підвищенню контрасту сформованих структур. Розроблено та верифіковано розрахункову модель, яка дозволяє визначати оптимальні режими лазерного термохімічного інтерференційного запису для різних металевих плівок і забезпечувати отримання висококонтрастних субмікронних елементів.