Факультет робототехніки та штучного інтелекту
Постійне посилання на фондhttps://repository.lntu.edu.ua/handle/123456789/3434
Переглянути
1 результатів
Результати пошуку
Item type:Матеріали конференцій, Проблеми забезпечення точності та метрологічної надійності інформаційно-вимірювальних систем(Київ: КПІ ім. Ігоря Сікорського, 2024) Денисюк, Віктор ЮрійовичУ роботі розглянуто проблеми забезпечення точності та метрологічної надійності сучасних інформаційно-вимірювальних систем (ІВС), які характеризуються високою структурною, конструктивною та алгоритмічною складністю. Проаналізовано сутність метрологічної надійності як здатності засобів вимірювання зберігати нормовані метрологічні характеристики протягом усього терміну експлуатації за заданих умов функціонування. Особливу увагу приділено вимірювальним каналам ІВС та блокам аналого-цифрового перетворення, які значною мірою визначають точність і функціональні можливості системи. Розглянуто основні показники оцінювання метрологічної надійності, зокрема метрологічний ресурс, імовірність метрологічної справності, показники інформаційної надійності та характеристики метрологічних відмов. Показано, що визначальним фактором зниження метрологічної надійності є нестаціонарний процес зміни метрологічних характеристик, пов’язаний зі старінням елементної бази та впливом зовнішніх факторів. Обґрунтовано доцільність використання методів математичного моделювання та прогнозування для оцінювання змін похибок, визначення міжповірочних інтервалів, прогнозування метрологічного ресурсу та підвищення надійності засобів вимірювання на етапі проєктування. Встановлено, що застосування сучасних високоінтегрованих аналого-цифрових перетворювачів і мікроконверторів у поєднанні з математичними моделями прогнозування сприяє створенню ІВС із підвищеним рівнем точності та метрологічної надійності.