Назва: До метрологічного забезпечення вимірювання за допомогою мікроскопа-нанотвердоміра «НаноCкан-3D»
| custom.quartile | інші наукометричні бази | |
| dc.contributor.author | Денисюк, Віктор Юрійович | |
| dc.contributor.author | Симонюк, Володимир Павлович | |
| dc.contributor.author | Лапченко, Юрій Сергійович | |
| dc.contributor.author | Тимощук, Антон Анатолійович | |
| dc.contributor.author | Черняк, Софія Олександрівна | |
| dc.date.accessioned | 2026-06-11T11:42:57Z | |
| dc.date.issued | 2021 | |
| dc.description.abstract | Проведено огляд методів і приладової бази для дослідження трибологічних і механічних властивос- тей поверхні. Встановлено, що найбільш поширеними методами дослідження цих властивостей на мікро- і на- нодіапазонах є контактні методи, засновані на взаємодії твердого наконечника з досліджуваним матеріалом. У скануючій зондовій мікроскопії для комплексного дослідження трибологічних і механічних властивостей пове- рхні основним елементом вимірювальних модулів, які використовуються для наноіндентування і склерометрії, є біморфний п’єзокерамічний зондовий датчик з алмазним наконечником. Оригінальна конструкція датчика до- зволяє реалізувати більше десяти вимірювальних методик на одному приладі. Робота цих приладів в напівкон- тактному скануючому зондово-мікроскопічному режимі дозволяє отримати зображення рельєфу поверхні і ка- рту розподілу пружних властивостей. Режим індентування дозволяє виміряти твердість і модуль пружності, оцінити пружне відновлення матеріалу після індентування. Метод дозволяє визначити опір абразивного зно- шення і твердість матеріалу, адгезію і товщину тонких покриттів. | |
| dc.identifier.citation | Денисюк В. Ю., Симонюк В. П., Лапченко Ю. С., Тимощук А. А., Черняк С. О. До метрологічного забезпечення вимірювання за допомогою мікроскопа-нанотвердоміра «НаноCкан-3D». «Прогресивна техніка, технологія та інженерна освіта»: матер. XХII-тої Міжнар. наук.-техн. конф., (м. Київ, 7-10 верес. 2021 р.). Київ: 2021. | |
| dc.identifier.uri | https://repository.lntu.edu.ua/handle/123456789/3779 | |
| dc.language.iso | uk | |
| dc.publisher | Київ: КПІ ІМ. ІГОРЯ СІКОРСЬКОГО | |
| dc.subject | твердість | |
| dc.subject | індентор | |
| dc.subject | рельєф | |
| dc.subject | трибометрія | |
| dc.subject | склерометрія | |
| dc.subject | зонд | |
| dc.subject | індентування | |
| dc.subject | сканування | |
| dc.subject | "на- нотвердомір | |
| dc.subject | датчик. | |
| dc.title | До метрологічного забезпечення вимірювання за допомогою мікроскопа-нанотвердоміра «НаноCкан-3D» | |
| dc.title.alternative | To metrological support of measurements using the NanoScan-3D nanohardness microscope | |
| dc.type | Thesis | |
| dspace.entity.type | StudyCollections |
Файли
Контейнер файлів
1 - 1 з 1
Вантажиться...
- Назва:
- 240480-Текст статті-552028-1-10-20210922.pdf
- Розмір:
- 1.03 MB
- Формат:
- Adobe Portable Document Format
Ліцензійна угода
1 - 1 з 1
Вантажиться...
- Назва:
- license.txt
- Розмір:
- 1.59 KB
- Формат:
- Item-specific license agreed to upon submission
- Опис: