Кафедра автоматизації та безпілотних систем
Постійне посилання на фондhttps://repository.lntu.edu.ua/handle/123456789/79
Переглянути
4 результатів
Результати пошуку
Item type:Наукова стаття, Заземлення, як метод захисту електроустановок під час монтажу засобів автоматизації(Івано Франківськ: Молодіжна наукова ліга, 2022) Черняк, Софія Олександрівна; Федік, Леся ЮріївнаУ статті розглянуто заземлення як один із найефективніших методів захисту електроустановок під час монтажу засобів автоматизації. Проаналізовано нормативні документи, що регламентують заходи електробезпеки, принцип дії захисного заземлення та його функціональні особливості. Описано застосування природних і штучних заземлювачів, наведено приклади використання систем TN, TN-S, TN-C-S та сучасної модульно-штирьової технології монтажу. Показано переваги новітніх технологій заземлення, які забезпечують підвищену надійність, економічність та довговічність елементів системи.Item type:Матеріали конференцій, До метрологічного забезпечення вимірювання за допомогою мікроскопа-нанотвердоміра «НаноCкан-3D»(Київ: КПІ ІМ. ІГОРЯ СІКОРСЬКОГО, 2021) Денисюк, Віктор Юрійович; Симонюк, Володимир Павлович; Лапченко, Юрій Сергійович; Тимощук, Антон Анатолійович; Черняк, Софія ОлександрівнаПроведено огляд методів і приладової бази для дослідження трибологічних і механічних властивос- тей поверхні. Встановлено, що найбільш поширеними методами дослідження цих властивостей на мікро- і на- нодіапазонах є контактні методи, засновані на взаємодії твердого наконечника з досліджуваним матеріалом. У скануючій зондовій мікроскопії для комплексного дослідження трибологічних і механічних властивостей пове- рхні основним елементом вимірювальних модулів, які використовуються для наноіндентування і склерометрії, є біморфний п’єзокерамічний зондовий датчик з алмазним наконечником. Оригінальна конструкція датчика до- зволяє реалізувати більше десяти вимірювальних методик на одному приладі. Робота цих приладів в напівкон- тактному скануючому зондово-мікроскопічному режимі дозволяє отримати зображення рельєфу поверхні і ка- рту розподілу пружних властивостей. Режим індентування дозволяє виміряти твердість і модуль пружності, оцінити пружне відновлення матеріалу після індентування. Метод дозволяє визначити опір абразивного зно- шення і твердість матеріалу, адгезію і товщину тонких покриттів.Item type:Матеріали конференцій, Підвищення точності системи прецизійного переміщення сканера скануючого зондового мікроскопа(Луцьк: Вежа-Друк, 2023) Денисюк, Віктор Юрійович; Черняк, Софія Олександрівна; Яблонський, Віталій ВалентиновичПредставлено результати досліджень п’єзоелектричного сканера для прецизійних механічних переміщень в скануючому зондовому мікроскопі з ємнісними датчиками переміщення і методи обробки зображень. Обґрунтовано вибір ємнісного датчика із змінним зазором між обкладинками, завдяки високій точності і чутливості, простої і дешевої конструкції, а також мінімальними нелінійними спотвореннями, що вносяться в роботу СЗМ. Оцінка параметрів управління, отримана за допомогою математичної моделі СЗМ, дозволила спроектувати ПІД-регулятор, що забезпечує прецизійне механічне переміщення з заданою точністю. Розроблена методика вимірювань і обробки інформації здатна відстежити ефекти кріпу, гістерезису та інших нелінейностей п’єзокераміки. Вона не залежить від впливу температурних шумів, ефектів зміни параметрів сканера в часі.Item type:Матеріали конференцій, Аналіз методик скануючої зондової літографії для отримання масок в полімерних плівках поліметилметакрилату(Луцьк: Вежа-Друк, 2023) Денисюк, Віктор Юрійович; Яблонський, Віталій Валентинович; Черняк, Софія ОлександрівнаПроведено аналіз методик і способів скануючої зондової літографії для формування літографічних масок для подальшого виготовлення наночастинок з різним аспектним співвідношенням, а також металевих нанорозмірних дротів як окремо розташованих, так і з масивними контактами з одного або різних металів. Встановлено, що методика точкового індентування з включеним зворотним зв’язком є найбільш оптимальною при створення літографічної маски для формування круглих наночастинок при товщині плівки поліметилметакрилату менше 100 нм з використанням спеціальних алмазних зондів. При більш товстих плівках полімеру форма одержуваної маски спотворюється, внаслідок конструктивних особливостей приладу.