Вимірювальний комплекс дослідження мікрогеометрії на базі профілографа-профілометра 252

Abstract

Кваліфікаційна робота магістра містить опис механізмів проведення досліджень мікронерівностей, шорсткості поверхні зокрема як контактними так і безконтактними методами вимірювань. Проведений порівняльний аналіз існуючих методів дослідження шорсткості поверхонь, наведені їхні слабкі та сильні сторони в сфері забезпечення точності, продуктивності та діапазонового інтервалу. Проведена розробка вимірювальної системи дослідження шорсткості поверхонь на базі профілографа-профілометра 252 з оцифровкою вимірювального сигналу з використанням аналого-цифрового перетворювача та відображення результатів вимірювань на персональному комп’ютері з використанням програмного забезпечення з можливістю їх аналізування та подальшої обробки.Master’s degree thesis contains a description of the mechanisms for conducting studies of microroughness, surface roughness, in particular, by both contact and non-contact measurement methods. A comparative analysis of existing methods for studying surface roughness is carried out, their weaknesses and strengths in the field of ensuring accuracy, productivity and range interval are given. A measuring system for studying surface roughness has been developed based on the profilograph-profilometer 252 with digitization of the measuring signal using an analog-to-digital converter and display of measurement results on a personal computer using software with the possibility of their analysis and further processing.